64 Gbps, Dual DP3T高速微機電開關
MM5620
MM5620 是一種提供高速差分訊號切換的雙DP3T MEMS射頻微機電繼電器，可在64 Gbps 的速度下工作，帶寬為20GHz。支持最新的PCIe Gen 5、Gen 6、SerDes 與其他標準的差分雙DP3T開關。此外，MM5620具有低插入損耗、快速切換速度，并可進行超過30億次的切換生命周期。
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MM5620在8.2mm *8.2mm LGA 封裝內提供了完整端到端TX 到RX Differential Loopback 解決方案，內建隔離電容，并提供多個高速路徑接回測試機臺。此外，MM5620采用系統級封裝(SiP)由主處理器透過SPI 或是GPIO 接口控制，內建驅動線路，大幅節省電路板空間。
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MM5620提供高速資料傳輸、高速差分數據應用，為空間受限的終端測試提供了前所未有的平行測試水準，并適用于智慧手機、圖形和網路處理器、微處理器、加速器和高速記憶體產品等各種產品。
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MM5620 基于Menlo Micro 的Ideal Switch?技術，并結合了奇異電子(General Electric) 的材料學以及康寧玻璃(Corning) 的玻璃穿孔技術(TGV)，可實現高達64 Gbps 或20 GHz 的高性能應用。
產品特性
- DC to 20 GHz range, up to 64 Gbps
- 差分傳輸, 雙DP3T
- 插入損耗2.3dB @ 16GHz De-embed
- 微機電制成
- 30億回壽命
- 內置交流耦合電容(220 nF)
- SPI 與GPIO 控制介面
- 8.2 mm x 8.2 mm LGA
接點形式
- 差分傳輸, 雙DP3T(*更多資訊請看下方圖表)
MM5620: 內部路徑與功能示意圖
MM5620 的高速(HS) Loopback 路徑支援64 Gbps PAM-4
頻率
- DC to 20 GHz range
- 64 Gbps
導通電組(Ω)
- 1.7
插入損耗
- 2.3dB @16GHz (高速路徑)
反射損耗
- 19dB @16GHz (高速路徑)
隔離度
- 67dB @16GHz (高速路徑)
靜電防護
- Class 0 ESD device
MM5620 控制示意圖
*控制方式：GPIO & SPI
*VDD_IO: Digital I/O supply (+1.8V to 5.0V)
*VDD: 類比線路所需+3.3V
*VIN: 內部升壓所需+5V
MM5620應用演示
在高速下使用一顆MM5620 測試兩條PCIe Gen4/5/6 通道
*HSIO Loopback Mode 乘以二
*在高速下使用一顆MM5620 測試兩條PCIe 4/5/6 通道
- TX0_X ? RX0_X (HS1 ? HS2) at speed test
- TX1_X ? RX1_X (MS1 ? MS2) at speed test
*全雙向信號路徑
MM5620: 信號路徑與量測案例
高速1(HS1 ? HS2)、高速2(MS1 ? MS2)、低速(LS1 ? LS2)
MM5620 高低速信號路徑RF 表現
高速1(HS1 ? HS2)、高速2(MS1 ? MS2)、低速(LS1 ? LS2)
MM5620 高速路徑眼圖表現(HS1 ? HS2)
眼圖測試條件：PCIe Gen6 / PAM4, 32 Gbaud(64Gbps), PRBS 2^15-1 / ±400mV
MM5620 高速路徑眼圖表現(MS1 ? MS2)
眼圖測試條件：PCIe Gen6 / PAM4, 32 Gbaud(64Gbps), PRBS 2^15-1 / ±400mV
MM5620: 信號路徑與量測案例
HS1 ? MS1、HS2 ? MS2、HS1 ? LS1、HS2 ? LS2、MS1 ? LS1、MS2 ? LS2
MM5620 其他信號路徑RF 表現
HS1 ? MS1、HS2 ? MS2、HS1 ? LS1、HS2 ? LS2、MS1 ? LS1、MS2 ? LS2
產品應用
- 半導體測試介面版
- PCIe 晶片測試
- PCIe Gen 5 & 6, SerDes,USBx.x , InfiniBand, HDMI, SSD, DDR, GPU, CPU, NICs, Memory Chips 測試
- 5G基地臺
- 陣列天線
- 高頻消費性產品
- Switched Filter Banks and Tunable Filters
- 高功率射頻前端(High Power RF Front Ends)
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