MEMSテクノロジーで耐久性を引き出す: リレーの壽命を1000倍に延長する
Bright Toward、さまざまなリレー技術の大手メーカーが、トランジスタ以來最大の電子部品革新であるIdeal Switch?を市場に投入した企業であるMenlo Microと提攜し、その獨自のモジュール設計にIdeal Switch?を活用しました。
このケーススタディは、現代の高強度半導體テストの実態を探り、Bright TowardがMenlo Microの理想スイッチ?を採用して、EMRのようなパフォーマンスを実現しつつ、壽命が3桁長いスイッチングソリューションを実現した方法、さらにはEMRと比べて大幅に小型化したパッケージでこれを実現した方法について説明しています。
Menlo Microの技術を活用することで、Bright Towardのエンジニアは、非直感的な方法でいくつかのIdeal Switchをカスケード接続し、絶縁性をほとんど低下させることなく、大幅に高い挿入損失を達成することができました。
課題
? 電磁リレー(EMR)の故障が、許容できない量のダウンタイムとサービス要求を引き起こしていた。
? ソリッドステートスイッチなどの利用可能なソリューションでは、EMRの絶縁、挿入損失、または線形性に匹敵できず、精密スイッチング用途のEMR代替として歴史的に他の選択肢がなかった。
ソリューション
? サイクル集約型半導體テスト環境におけるEMR代替としてのMenlo Micro社のIdeal Switch?テクノロジーを探索する。
? 既存のEMRとの完全な互換性を持つ、統合ドライバーと通信機能を備えたEMR交換用スイッチモジュールを作成する。
MIXO Sパラメータ
結果
巧みな設計により、Bright TowardはMenlo Microの理想スイッチ?技術を使って、顧客の期待を超えるEMRのようなパフォーマンスを実現しました。
未來
Bright Towardは、Menlo Microの理想スイッチ?技術を活用して、より高周波の解決策とより複雑なスイッチング解決策への移行を目指しています。
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